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電阻計(jì)
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電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，至多顯示600000數(shù)。
電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，至多顯示600000數(shù)。
電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，上限顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，上限顯示600000數(shù)。
電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT 3563系列和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，分別率下限0.1μΩ，至多顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，分別率下限10μV，至多顯示600000數(shù)。
和普低電阻測(cè)試儀
  • 和普低電阻測(cè)試儀
  • CHT3545和普低電阻測(cè)試儀基本精度 0.01%，可測(cè)范圍 10mΩ ~1200MΩ電阻。具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期， 上限分選速度可達(dá) 450 次/秒，能確保每次做出高速可靠的分選。
和普微歐計(jì)
  • 和普微歐計(jì)
  • CHT3544/CHT3548和普微歐計(jì)針對(duì)不同應(yīng)用場(chǎng)合分別設(shè)計(jì)臺(tái)式和手持式兩種款式。0.1μΩ~3.3MΩ的測(cè)試范圍，0.02%的基本精度可以滿足大多數(shù)的電阻測(cè)試應(yīng)用場(chǎng)合?？垢蓴_的電路設(shè)計(jì)使得該儀器能夠在各種復(fù)雜的電磁環(huán)境下完成準(zhǔn)確測(cè)試，CHT3544標(biāo)配RS232/RS485/LAN通訊接口和I/...
和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • HP3561和普電池內(nèi)阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、采用高性能微處理器控制的電池內(nèi)阻測(cè)試儀。 內(nèi)阻量程范圍為3mΩ～3kΩ，下限分別率0.1μΩ，上限顯示32000數(shù)。電壓 量程范圍為6V～60V，下限分別率10μV，上限顯示600000數(shù)。
高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT3563系列是一種高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀。無(wú)論是趨向大型化低阻化的鋰電池，還是高電壓應(yīng)用增長(zhǎng)中的電池組，面對(duì)不斷發(fā)展的電池生產(chǎn)行業(yè)，該儀器能同時(shí)高速檢查內(nèi)部電阻(IR)和電池電壓(OCV)。該產(chǎn)品分辨率高、穩(wěn)定性好、測(cè)試周期短、外形精致、功能強(qiáng)大、接口豐富、適用...
高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • 高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀
  • CHT3563系列是一種高精度電池內(nèi)阻測(cè)試儀。無(wú)論是趨向大型化低阻化的鋰電池，還是高電壓應(yīng)用增長(zhǎng)中的電池組，面對(duì)不斷發(fā)展的電池生產(chǎn)行業(yè)，該儀器能同時(shí)高速檢查內(nèi)部電阻(IR)和電池電壓(OCV)。該產(chǎn)品分辨率高、穩(wěn)定性好、測(cè)試周期短、外形精致、功能強(qiáng)大、接口豐富、適用...
低電阻測(cè)試儀
  • 低電阻測(cè)試儀
  • CHT3545和普低電阻測(cè)試儀基本精度 0.01%，可測(cè)范圍 10mΩ ~1200MΩ電阻。具有高速的測(cè)試線異常檢測(cè)功能和極短的測(cè)量周期， 上限分選速度可達(dá) 450 次/秒，能確保每次做出高速可靠的分選。
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